Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии. Пер.с англ.
Автор:
Рид С.Дж. Б., 232 стр., серия:
"Мир наук о земле",
издатель:
"Техносфера", ISBN:
978-5-94836-177-2
В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа. Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.
В наличии: |
|
My-shop.ru - 483 руб.
|
Перейти
|
|
|