Справочник по микроскопии для нанотехнологии
Автор:
Под.ред. Нан Яо, Чжун Лин Ван, 712 стр., серия:
"Фундаментальные основы нанотехнологий. Лучшие зарубежные учебники",
издатель:
"Научный Мир ", ISBN:
978-5-91522-232-7
Книга посвящена современным методам микроскопии, технике измерений и литографии на наномасштабе. В книге рассмотрены основные экспериментальные методы конфокальной оптической микроскопии, ближнепольной оптической микроскопии, зондовой микроскопии, ионной и электронной микроскопии, рентгеновской спектроскопии, зондовой и электронной литографии и др. Книга предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией. В книге изложены основные принципы работы методов микроскопии, области их применения, приведены многочисленные примеры их использования. Разделы книги написаны и переведены учеными с мировым именем – ведущими специалистами в области микроскопии и нанотехнологии. Книга предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией.
Под заказ: |
|
My-shop.ru - 1807 руб.
|
Перейти
|
|
|
Рейтинг книги:



4 из 5,
3 голос(-ов).