Поиск книг, учебников, пособий в онлайн-магазинах
Я ищу
Название книги, автор, издатель, серия или ISBN
Основы анализа поверхности и тонких пленок

Основы анализа поверхности и тонких пленок

Автор: Л. Фелдман, Д. Майер, 344 стр., издатель: "Мир", ISBN: 5-03-001017-3, 0-444-00989-2

Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне. Для специалистов, интересующихся проблемами анализа поверхности и тонких пленок, аспирантов и студентов.
В наличии:
OZON.ru OZON.ru - 2526 руб. Перейти
 
Рейтинг книги: starstarstarstarstar 5 из 5, 6 голос(-ов).

Популярные книги по минимальной цене:

Защитник в уголовном процессе: Научно-практическое руководство - (Библиотека юриста)
52 руб.
Десерты для взрослых и малышей. Пальчики оближешь!
75 руб.
Тайная книга
134 руб.
Краткий курс Золушки
328 руб.

Дополнительно: