В издании представлены основные методы поиска патентной информации (НЦИС, ФИПС, ВОИС). Приводятся практические задания и контрольный тест. Предназначено для проведения лабораторных и практических занятий по разделу "Патентные исследования". Рекомендовано преподавателям и студентам вузов и ССУЗов.

Под заказ:
	OZON.ru - 103 руб.	Перейти

Рейтинг книги: 5 из 5, 4 голос(-ов).