High Quality Content by WIKIPEDIA articles! Piezoresponse force microscopy (PFM) is a variant of atomic force microscopy (AFM) that allows imaging and manipulation of ferroelectric domains. This is achieved by bringing a sharp conductive probe into contact with a ferroelectric surface (or piezoelectric material) and applying an alternating current (AC) bias to the probe tip in order to excite deformation of the sample through the converse piezoelectric effect (CPE). The resulting deflection of the probe cantilever is detected through standard split photodiode detector methods and then demodulated by use of a lock-in amplifier (LiA). In this way topography and ferroelectric domains can be imaged simultaneously with high resolution. Данное издание представляет собой компиляцию сведений, находящихся в свободном доступе в среде Интернет в целом, и в информационном сетевом ресурсе "Википедия" в частности. Собранная по частотным запросам указанной тематики, данная компиляция построена по...

В наличии:
	Books.Ru - 1128 руб.	Перейти
Под заказ:
	OZON.ru - 1125 руб.	Перейти

Рейтинг книги: 4 из 5, 1 голос(-ов).