Scanning joule expansion microscopy
Автор:
Jesse Russell,Ronald Cohn, 44 стр., издатель:
"Книга по Требованию", ISBN:
978-5-5081-4535-4
High Quality Content by WIKIPEDIA articles! Scanning Joule Expansion Microscopy is a form of scanning probe microscopy heavily based on atomic force microscopy that maps the temperature distribution along a surface. Resolutions down to 10 nm have been achieved and 1 nm resolution is theoretically possible. Thermal measurements at the nanometer scale are of both academic and industrial interest, particularly in regards to nanomaterials and modern integrated circuits. Данное издание представляет собой компиляцию сведений, находящихся в свободном доступе в среде Интернет в целом, и в информационном сетевом ресурсе "Википедия" в частности. Собранная по частотным запросам указанной тематики, данная компиляция построена по принципу подбора близких информационных ссылок, не имеет самостоятельного сюжета, не содержит никаких аналитических материалов, выводов, оценок морального, этического, политического, религиозного и мировоззренческого характера в отношении главной тематики, представляя...
Рейтинг книги:



4 из 5,
9 голос(-ов).