High Quality Content by WIKIPEDIA articles! Ellipsometry is an optical technique for the investigation of the dielectric properties (complex refractive index or dielectric function) of thin films. Данное издание представляет собой компиляцию сведений, находящихся в свободном доступе в среде Интернет в целом, и в информационном сетевом ресурсе "Википедия" в частности. Собранная по частотным запросам указанной тематики, данная компиляция построена по принципу подбора близких информационных ссылок, не имеет самостоятельного сюжета, не содержит никаких аналитических материалов, выводов, оценок морального, этического, политического, религиозного и мировоззренческого характера в отношении главной тематики, представляя собой исключительно фактологический материал.

В наличии:
	Books.Ru - 1128 руб.	Перейти
Под заказ:
	OZON.ru - 1125 руб.	Перейти

Рейтинг книги: 4 из 5, 7 голос(-ов).