A BASIC program for calculating dopant density profiles from capacitance-voltage data
Автор: Richard L. Mattis,Martin G. Buehler,United States. National Bureau of Standards, издатель: "Книга по требованию", ISBN: 978-5-8851-3455-2| В наличии: | ||||
|
|
Books.Ru - 484 руб. |
Перейти
|
||




5 из 5, 8 голос(-ов).