Основы анализа поверхности и тонких пленок. Физико-химический анализ
Автор:
Л. Фелдман, 341 стр., издатель:
"Книга по Требованию", ISBN:
978-5-458-33105-0
Монография, написанная известными американскими специалистами в обла-сти атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам иметодам использования пучков ионов, электронов н рентгеновского излучениядля анализа структуры н состава тонких пленок вещества. Эти методы играютважную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в областимикроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне.Для специалистов, ннтересующнхся проблемами анализа поверхности н тон-ких пленок, аспирантов и студентов. Воспроизведено в оригинальной авторской орфографии издания 1989 года (издательство "Мир"). Внимание! На данный товар не распространяются ни оптовые, ни накопительные скидки. Эта книга будет изготовлена в соответствии с Вашим заказом по технологии Print-on-Demand. Print-on-Demand - это технология печати книг по Вашему заказу на цифровом типографском оборудовании.
В наличии: |
|
My-shop.ru - 2422 руб.
|
Перейти
|
|
|
Рейтинг книги:



4 из 5,
5 голос(-ов).