Поиск книг, учебников, пособий в онлайн-магазинах
Я ищу
Название книги, автор, издатель, серия или ISBN
Основы анализа поверхности и тонких пленок. Физико-химический анализ

Основы анализа поверхности и тонких пленок. Физико-химический анализ

Автор: Л. Фелдман, 341 стр., издатель: "Книга по Требованию", ISBN: 978-5-458-33105-0

Монография, написанная известными американскими специалистами в обла-сти атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам иметодам использования пучков ионов, электронов н рентгеновского излучениядля анализа структуры н состава тонких пленок вещества. Эти методы играютважную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в областимикроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне.Для специалистов, ннтересующнхся проблемами анализа поверхности н тон-ких пленок, аспирантов и студентов. Воспроизведено в оригинальной авторской орфографии издания 1989 года (издательство "Мир"). Внимание! На данный товар не распространяются ни оптовые, ни накопительные скидки. Эта книга будет изготовлена в соответствии с Вашим заказом по технологии Print-on-Demand. Print-on-Demand - это технология печати книг по Вашему заказу на цифровом типографском оборудовании.
В наличии:
My-shop.ru My-shop.ru - 2422 руб. Перейти
 
Рейтинг книги: starstarstarstar 4 из 5, 5 голос(-ов).

Популярные книги по минимальной цене:

История искусства. Очень краткое введение
79 руб.
Путь Ворона
70 руб.
Герои – моя слабость
76 руб.
Зодиак. Грейсмит Р.
494 руб.

Дополнительно: