В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорент-геноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов.

В наличии:
	OZON.ru - 423 руб.	Перейти		Лучшая цена
Под заказ:
	GOODREADS.RU - 346 руб.	Перейти
	GOODREADS.RU - 514 руб.	Перейти

Рейтинг книги: 4 из 5, 7 голос(-ов).