Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия (Серия:'Мир материалов и технологий-VI.08')
Автор:
Синдо Д., Оикава Т., серия:
"Мир материалов и технологий",
издатель:
"Техносфера", ISBN:
5-94836-064-4
Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов. В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии. Настольная книга материаловеда.
В наличии: |
|
My-shop.ru - 142 руб.
|
Перейти
|
|
Лучшая цена
|