Микроструктура материалов: Методы исследования и контроля: Учебник /Пер. с англ. (Серия: 'Мир материалов и технологий')
Автор:
Д. Брандон, У. Каплан, 384 стр., серия:
"Мир материалов и технологий (Техносфера)",
издатель:
"Техносфера ", ISBN:
5-94836-018-0, 5-94846-018-0
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие <a href="http://read.ru/id/936406">модели</a> электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Рейтинг книги:



4 из 5,
7 голос(-ов).