Surface photovoltage
Автор:
Jesse Russell,Ronald Cohn, 86 стр., издатель:
"Книга по Требованию", ISBN:
978-5-5111-8714-3
High Quality Content by WIKIPEDIA articles! Surface photovoltage (SPV) measurements are a widely used method to determine the minority carrier diffusion length of semiconductors. Since the transport of minority carriers determines the behavior of the p-n junctions that are ubiquitous in semiconductor devices, surface photovoltage data can be very helpful in understanding their performance. As a contactless method, SPV is a popular technique for characterizing poorly understood compound semiconductors where the fabrication of ohmic contacts or special device structures may be difficult. Данное издание представляет собой компиляцию сведений, находящихся в свободном доступе в среде Интернет в целом, и в информационном сетевом ресурсе "Википедия" в частности. Собранная по частотным запросам указанной тематики, данная компиляция построена по принципу подбора близких информационных ссылок, не имеет самостоятельного сюжета, не содержит никаких аналитических материалов, выводов, оценок...