Основы математической метрологии.
Автор:
Цветков Эрик Иванович, издатель:
"Политехника", ISBN:
5-7325-0793-0
В монографии представлены основы теории математических моделей объектов, условий, процедур и средств измерений. Дан формализованный аппарат описания моделей объектов и процедур, свойств результатов и погрешностей результатов измерений. Представлено базовое алгоритмическое обеспечение метрологического анализа типовых процедур измерений. Книга предназначена для метрологов и специалистов-измерителей, ориентирующихся на использование современных информационных технологий, преподавателей, аспирантов и студентов вузов соответствующих специальностей.
В наличии: |
|
Labirint - 826 руб.
|
Перейти
|
|
|