Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
Автор:
Д. Синдо, Т. Оикава, 256 стр., серия:
"Мир материалов и технологий",
издатель:
"Техносфера", ISBN:
4-431-70336-5
Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго-дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам: на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны, подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов. В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии. Настольная книга материаловеда.
Рейтинг книги:



4 из 5,
3 голос(-ов).